總線 | 晶振 | 校時(shí)方式 | 精度 | 32K輸出 | INT輸出 | 溫度補(bǔ)償 | SRAM | ID碼 | 電池電壓測(cè) | IIC | 內(nèi)置 | 外部 | 25℃<±5ppm | √ | √ | √ | 70字節(jié) | √ | √ | ? 封裝形式?? | DIP8/DIP16/DIP24 |
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全溫度補(bǔ)償?shù)母呔葘?shí)時(shí)時(shí)鐘-SD2500系列
內(nèi)置晶振、電池、串行NVSRAM/EEPROM、70字節(jié)用戶SRAM、電池電壓檢測(cè)、64位ID碼
概述:
SD2500系列是一種具有內(nèi)置晶振、支持IIC串行接口的高精度實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片,CPU可使用該接口通過(guò)7位地址尋址來(lái)讀寫(xiě)片內(nèi)122字節(jié)寄存器的數(shù)據(jù)(包括時(shí)間寄存器、報(bào)警寄存器、控制寄存器、用戶SRAM寄存器及ID碼寄存器)。SD2500系列內(nèi)置晶振,該芯片可保證在25℃下時(shí)鐘精度小于±5ppm,即年誤差小于2.6分鐘;該系列芯片內(nèi)置時(shí)鐘精度溫度補(bǔ)償功能,實(shí)現(xiàn)在常溫及寬溫范圍內(nèi)不需用戶干預(yù)、全自動(dòng)、全電源環(huán)境補(bǔ)償?shù)母呔?、高可靠?jì)時(shí)功能。SD2500系列內(nèi)置的一次性工業(yè)級(jí)電池或充電電池可保證在外部掉電情況下時(shí)鐘使用壽命為5~8年時(shí)間。SD2500系列采用了多種提高芯片可靠性的技術(shù),可滿足對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片的各種需要,是在選用高精度實(shí)時(shí)時(shí)鐘時(shí)的理想選擇。
主要性能特點(diǎn):
>低功耗: 0.8μA 典型值(VBAT =3.0V,Ta=25℃)。
>工作電壓:2.7V~5.5V。
>標(biāo)準(zhǔn)IIC總線接口方式,最高速度400KHZ(4.5V~5.5V)。
>年、月、日、星期、時(shí)、分、秒的BCD碼輸入/輸出,并可通過(guò)獨(dú)立的地址訪問(wèn)各時(shí)間寄存器。
>閏年自動(dòng)調(diào)整功能(從2000年~2099年)。
>可選擇12/24小時(shí)制式.
>內(nèi)置年、月、日、星期、時(shí)、分、秒共7字節(jié)的報(bào)警數(shù)據(jù)寄存器及1字節(jié)的報(bào)警允許寄存器,共有96種組合報(bào)警方式,并有單事件報(bào)警和周期性 報(bào)警兩種中斷輸出模式,報(bào)警時(shí)間最長(zhǎng)可設(shè)至100年。
>周期性頻率中斷輸出:從4096Hz~1/16Hz……1秒共十四種方波脈沖.
>自動(dòng)重置的三字節(jié)共24位的倒計(jì)時(shí)定時(shí)器,可選的4種時(shí)鐘源(4096HZ、1024HZ、1秒、1分鐘),最小定時(shí)為244us,最長(zhǎng)定時(shí)可到31年,
通過(guò)計(jì)算可獲得較精確的毫秒級(jí)定時(shí)值。
>五種中斷均可選擇從INT腳輸出,并具有四個(gè)中斷標(biāo)志位.
>內(nèi)置76字節(jié)通用SRAM寄存器可用于存儲(chǔ)用戶的一般數(shù)據(jù)。
>具有可控的32768HZ方波輸出腳F32K,可以位允許/禁止32K輸出。
>內(nèi)置8bit轉(zhuǎn)換結(jié)果的數(shù)字溫度傳感器,為了節(jié)省電池電量消耗,設(shè)為VDD模式下60S間隔測(cè)溫一次,電池模式600S間隔測(cè)溫一次。
>內(nèi)置晶振和諧振電容,芯片內(nèi)部通過(guò)精度補(bǔ)償方法,實(shí)現(xiàn)在寬溫范圍內(nèi)高精度的計(jì)時(shí)功能,25℃精度<±5ppm。
>內(nèi)置智能充電電路 ,其內(nèi)部的3.3V穩(wěn)壓電路可選擇性地對(duì)外接的充電電池進(jìn)行自動(dòng)充電,內(nèi)置的充電限流電阻可位選2KΩ、5KΩ和10KΩ三種。
>內(nèi)置電池電壓檢測(cè)功能,可讀取當(dāng)前電池電壓值(三位有效數(shù)),設(shè)置高低電池報(bào)警電壓值并從INT腳輸出中斷。
>芯片依據(jù)不同的電壓自動(dòng)從VDD切換到電池或從電池切換到VDD。當(dāng)芯片檢測(cè)到主電源VDD掉到2.4V電壓以下且VDD小于電池電壓,芯片會(huì)轉(zhuǎn) 為后備電池供電;當(dāng)VDD大于電池電壓或VDD大于2.4V,則芯片會(huì)轉(zhuǎn)為由VDD供電。(內(nèi)置電源模式指示位PMF,VDD模式時(shí)PMF=0,VBAT
模式時(shí)PMF=1)
>在VBAT模式下,芯片具有中斷輸出允許或禁止的功能,可滿足在備用電池供電時(shí)輸出中斷的需要。
>內(nèi)置的充電電池及充電電路,在電池滿充時(shí)可保證內(nèi)部時(shí)鐘走時(shí)超過(guò)半年,累計(jì)電池電量超過(guò)550mAh,電池使用壽命為5~8年時(shí)間;內(nèi)置的
一次性民用級(jí)電池使用壽命為3~5年,一次性工業(yè)級(jí)電池使用壽命為5~8年時(shí)間。
>內(nèi)置的16kbit~256kbit非易失性SRAM(C/D/E型),其讀寫(xiě)次數(shù)為100億次,且內(nèi)部寫(xiě)延時(shí)小于300ns。
>內(nèi)置的2kbit~256kbitE2PROM(F/B/C/D/E型),其擦寫(xiě)次數(shù)100萬(wàn)次。
>內(nèi)置8字節(jié)的ID碼(OTP型),芯片出廠之前設(shè)定,全球唯一的身份識(shí)別碼。
>內(nèi)置IIC總線0.5秒自動(dòng)復(fù)位功能(從Start命令開(kāi)始計(jì)時(shí)),該功能可以避免IIC總線掛死問(wèn)題。
>內(nèi)置三個(gè)時(shí)鐘數(shù)據(jù)寫(xiě)保護(hù)位, 避免對(duì)數(shù)據(jù)的誤寫(xiě)操作,可更好地保護(hù)數(shù)據(jù)。
>內(nèi)置軟件可控VBAT模式IIC總線通信禁止功能(BATIIC=0,VBAT模式下禁止IIC通信;BATIIC=1,VBAT模式下允許IIC通信.上電默認(rèn)值 BATIIC=0),從而避免在電池供電時(shí)CPU對(duì)時(shí)鐘操作所消耗的電池電量,也可避免在VDD上、下電的過(guò)程中因CPU的I/O端口所輸出的不受控的 雜波信號(hào)對(duì)時(shí)鐘芯片的誤寫(xiě)操作,進(jìn)一步提高芯片的可靠性。
>內(nèi)置上電指示位RTCF,當(dāng)包括電池在內(nèi)的所有電源第一次上電時(shí)該位置1。
>內(nèi)置電池電壓欠壓指示位BLF,當(dāng)電池電壓低于2.2V時(shí)BLF位置1。
>內(nèi)置停振檢測(cè)位OSF,當(dāng)內(nèi)部振蕩器停止振蕩時(shí)該位置1?!?/p>
>芯片管腳抗靜電(ESD)>2KV。
>芯片在興威帆的評(píng)估板上可通過(guò)4KV的群脈沖(EFT)干擾。
型號(hào)列表:
型 號(hào) | 晶振 | 電池類(lèi)別 | NVSRAM | EEPROM | SRAM | ID碼 | 溫度補(bǔ)償 | 封裝形式 |
SD2500A/C/D/EP | √ | 一次性 | √ | √ | √ | √ | DIP24 | |
SD2500F/B/C/D/ELP | √ | 一次性 | √ | √ | √ | √ | DIP24 | |
SD2501A/C/D/EP | √ | 充電 | √ | √ | √ | √ | DIP24 | |
SD2501F/B/C/D/ELP | √ | 充電 | √ | √ | √ | √ | DIP24 | |
SD2503API | √ | - | √ | √ | √ | DIP8 | ||
SD2505API | √ | 充電 | √ | √ | √ | DIP16 | ||
SD2506API | √ | 充電 | √ | √ | √ | DIP8 | ||
SD2507AP | √ | 一次性 | - | √ | √ | √ | DIP16 | |
備注:1.后綴A/F/B/C/D/E:分別表示內(nèi)置NVSRAM/EEPROM容量,分別為0/2/4/16/64/256Kbit。 2.各型號(hào)均有工業(yè)級(jí),其尾綴加“I”以示區(qū)分;SD2507APA-A為溫度范圍為-40℃~+125℃車(chē)規(guī)級(jí)產(chǎn)品。 |
管腳設(shè)置:
原理框圖:
走時(shí)精度-溫度曲線圖:
銷(xiāo)售服務(wù)專(zhuān)線:0755-82127888
技術(shù)支持專(zhuān)線:0755-82127938
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